هیستوگرام قابلیت فرآیند — توزیع تلرانس و شاخص‌های Cp/Cpk
پراکندگی ابعاد تولیدی و تمرکز فرآیند را در برابر حدود مشخصات مهندسی بررسی کنید تا توانمندی شش سیگمای خط تولید ارزیابی شود.
نکته: ردیف‌های Excel یا Google Sheets را مستقیماً در هر خانه بچسبانید (Ctrl+V / ⌘V).
| # | Label | ||
|---|---|---|---|
| 1 | |||
| 2 | |||
| 3 | |||
| 4 | |||
| 5 | |||
| 6 | |||
| 7 |
Potential capability: Cp = (USL - LSL) / (6 * sigma). Centered capability: Cpk = min((USL - mu) / (3 * sigma), (mu - LSL) / (3 * sigma)).
پرسش‌های متداول (FAQ)
ابزار آنلاین هیستوگرام قابلیت فرآیند — توزیع تلرانس و شاخص‌های Cp/Cpk چگونه کار می‌کند؟+
مقادیر معلوم را وارد کنید یا لغزنده‌ها را تغییر دهید تا هیستوگرام قابلیت فرآیند — توزیع تلرانس و شاخص‌های Cp/Cpk بر اساس رابطه histogram به‌صورت درجا در مرورگر شما محاسبه و ترسیم شود. پراکندگی ابعاد تولیدی و تمرکز فرآیند را در برابر حدود مشخصات مهندسی بررسی کنید تا توانمندی شش سیگمای خط تولید ارزیابی شود.
آیا می‌توانم نتایج و نمودارهای هیستوگرام قابلیت فرآیند — توزیع تلرانس و شاخص‌های Cp/Cpk را دانلود یا چاپ کنم؟+
بله، می‌توانید به‌راحتی خروجی SVG، PNG، CSV دریافت کنید یا کاربرگ را چاپ نمایید.
آیا می‌توانم داده‌های نمونه را در هیستوگرام قابلیت فرآیند — توزیع تلرانس و شاخص‌های Cp/Cpk پاک کنم و از صفحه خالی شروع کنم؟+
بله، با کلیک روی دکمه پاک‌سازی در بالای ابزار می‌توانید تمام ورودی‌ها را خالی کنید یا هر زمان دوباره داده‌های نمونه را بارگذاری نمایید.